Presentazione della Giornata di studio
La complessità sempre maggiore degli apparati di strumentazione e controllo, unitamente ai requisiti via via più stringenti di qualità, sicurezza, affidabilità e disponibilità dei processi produttivi fanno sì che in ambito industriale si avverta sempre più l'esigenza di sistemi di controllo con capacità di individuazione ed isolamento di guasti incipienti o già in atto.
D'altra parte, la disponibilità di intelligenza distribuita e le notevoli possibilità di trasmissione ed elaborazione dei dati di campo consentono l'impiego di sofisticati strumenti di diagnostica in tempo reale. Per queste ragioni già oggi, oltre che nei campi di tradizionale applicazione, quali l'industria aeronautica e nucleare, tecniche di diagnostica industriale sono largamente impiegate in settori molto diversi, quali l'industria per la produzione dell'energia, l'industria meccanica, l'industria chimica e petrolchimica, l'industria automobilistica. Tuttavia, data la complessità del problema e la varietà delle metodologie esistenti, spesso non è facile valutare quali approcci siano di maggior interesse per lo specifico problema in esame e quali alternative possano comunque essere considerate.
La Giornata di Studio, tramite contributi di esperti provenienti dall'università
e dal mondo della produzione, si propone allora di presentare e classificare
i principali approcci al problema della diagnostica industriale introducendone
dapprima gli aspetti salienti di carattere metodologico e descrivendo quindi
una serie di applicazioni industriali.
Programma
8.30 Registrazione dei partecipanti 9.00 Saluto ai partecipanti E. Dadda - Presidente ANIPLA Sezione di Milano 9.15 Prima sessione Moderatore N. Schiavoni Problemi e metodi di diagnostica industriale R. Scattolini - Università di Pavia N. Schiavoni - Politecnico di Milano Tecniche di analisi dei segnali per il rilevamento di guasti G. De Nicolao - Università di Pavia Intervallo Reti neurali: diagnostica e misure inferenziali N. Bonavita - Elsag Bayley T. Parisini - Politecnico di Milano I sistemi di diagnostica sviluppati dalla ricerca ENEL per i propri impianti e la strumentazione ad essi associata U. Ciarniello - ENEL M. De Carli - ENEL 12.45 Sospensione dei lavori 14.15 Seconda sessione Moderatore T. Parisini Diagnostica di sistemi complessi: il caso dell'"on board vehicle diagnostic" C. Rossi - Magneti Marelli G. Serra - Magneti Marelli Tecniche di diagnostica avanzata per le valvole di regolazione nell'industria di processo R. Brambilla - Fisher-Rosemount Intervallo Integrazione di DCS con sistemi di manutenzione dinamica C. Gementi - Foxboro Italia Manutenzione preventiva e diagnostica di macchine utensili E. Buffoli - Buffoli Transfer 17.30 Chiusura dei lavori
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