Tomografia computerizzata per la metrologia industriale: Convegno a Rovigo il 21 Febbraio 2014


Sono ormai passati più di 40 anni da quando, nel 1971, venne installato all'Atkinson Morley Hospital di Londra il primo tomografo computerizzato per lo studio di patologie cerebrali. Allora si riteneva che l’applicazione di questa tecnica rimanesse confinata al solo studio del cranio. Rapidamente, invece, l’applicazione si è estesa a varie branchie della diagnostica medica per arrivare, oggi, ad un suo trasferimento, in continua espansione, alle applicazioni industriali.

Ebbene, oggi, la digitalizzazione completa ed accurata di tutta la superficie di un pezzo, anche interna e non accessibile, è resa possibile anche in ambito industriale dalla tomografia computerizzata, che è in grado offrire numerosi vantaggi rispetto ad altri sistemi di misura dimensionale più tradizionali:

• misura tridimensionale e navigabile dell’intero oggetto,
• visualizzazione realistica e dettagliata della struttura interna ed esterna,
• controlli non distruttivi,
• misura di parti assemblate e superfici di contatto tra componenti diverse,
• analisi di prodotti in materiale composito e multi-materiale,
• tempi di scansione indipendenti dalla complessità della geometria,

Le applicazioni sono molteplici ed in continuo sviluppo e le prestazioni metrologiche, sempre più, si avvicinano a quelle tipiche della metrologia a coordinate tradizionale. Dall’altro lato, la possibilità di controllare particolari di dimensioni ragguardevoli e di spessori elevati è facilitata dalla potenza dei nuovi tomografi e dall’applicazione di raffinate tecniche di compensazione.

Per offrire una panoramica aggiornata su questi temi, illustrando le nuove tecnologie ed alcuni esempi applicativi per lo sviluppo prodotto ed il controllo qualità, l’Associazione CMM Club Italia organizza, il 21 febbraio 2014, il seminario InTeRSeC 27 “Tomografia computerizzata per la metrologia industriale”.

Il seminario, che si terrà a Rovigo presso l’Università degli Studi di Padova - Laboratorio TE.SI., vedrà come relatori alcuni dei massimi esperti italiani di tomografia computerizzata e di metrologia industriale.

A lato del seminario, in un’area definita, è prevista la presentazione di soluzioni commerciali e di servizi di tomografia da parte di costruttori e di laboratori metrologici che operano conto terzi in questo specifico settore.

Per informazioni dettagliate sull’evento: www.cmmclub.it


Dicembre 2013

Alberto Zaffagnini
alberto.zaffagninigmail.com
tel 3356951742